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產(chǎn)品中心/ PRODUCTS
簡(jiǎn)要描述:4200A-SCS 元件參數(shù)分析儀4200A-SCS加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能*電學(xué)特性參數(shù)分析儀,提供同步電流電壓曲線測(cè)試 (I-V曲線測(cè)試)、電容-電壓曲線測(cè)試 (C-V曲線測(cè)試) 和超快脈沖 I-V曲線測(cè)量。
4200A-SCS 元件參數(shù)分析儀
親眼見證創(chuàng)新! 4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成 的參數(shù)分析儀,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。作為高性能的參數(shù)分析儀, 4200A-SCS 加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測(cè)量和分析功能。憑借嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)和數(shù)百項(xiàng)隨時(shí) 可以投入使用的應(yīng)用測(cè)試,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程,快速而又滿懷信心。
4200A-SCS 元件參數(shù)分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配 置,不管是現(xiàn)在還是未來,都可以隨時(shí)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行升級(jí)。通過4200A-SCS 元件參數(shù)測(cè)試儀分析儀,通往發(fā)現(xiàn)之路現(xiàn)在變得異常簡(jiǎn)便。
I-V 源測(cè)量單元(SMU)
± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
100 fA測(cè)量分辨率
選配前端放大器提供了 10 aA測(cè)量分辨率
10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測(cè)量
100 μF負(fù)載電容
四象限操作
2 線或 4 線連接
C-V 多頻率電容單元(CVU)
AC 阻抗測(cè)量 (C-V, C-f, C-t)
1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
± 30 V (60 V差分)內(nèi)置DC偏置源,可以擴(kuò)展到± 210 V(420 V 差分)
選配 CVIV 多通道開關(guān),在 I-V 測(cè)量和 C-V 測(cè)量之間簡(jiǎn)便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測(cè)量單元(PMU)
兩個(gè)獨(dú)立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測(cè)量通道
200 MSa/s,5 ns 采樣率
±40 V (80 V p-p),±800 mA
瞬態(tài)波形捕獲模式
任意波形發(fā)生器 Segment ARB® 模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率
高壓脈沖發(fā)生器單元(PGU)
兩個(gè)高速脈沖電壓源通道
±40 V (80 V p-p),± 800 mA
任意波形發(fā)生器 Segment ARB®模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關(guān)模塊 (CVIV)
在 I-V測(cè)量和 C-V 測(cè)量之間簡(jiǎn)便切換,無需重新布線或抬起探針
把 C-V測(cè)量移動(dòng)到任意端子,無需重新布線或抬起探針遠(yuǎn)程前端放大器/ 開關(guān)模塊(RPM)
在 I-V 測(cè)量、C-V 測(cè)量和超快速脈沖 I-V 測(cè)量之間自動(dòng)切換
把 4225-PMU的電流靈敏度擴(kuò)展到數(shù)十皮安
降低電纜電容效應(yīng)
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